OCA 50 – Equipamento de Medição de Ângulos de Contacto
oca 50

Representada:

OCA 50 – Equipamento de Medição de Ângulos de Contacto

O que é o OCA 50?

O OCA 50, da DataPhysics Instruments, é um equipamento totalmente automático para medição de ângulos de contacto e caracterização da molhabilidade de superfícies. Além disso, permite analisar diferentes zonas de uma mesma amostra sem necessidade de reposicionamento manual. Assim, aumenta a produtividade do laboratório e garante medições consistentes e reprodutíveis.

Vantagens

  • Automatização das sequências de medição
  • Posicionamento eletrónico da amostra nos três eixos
  • Mapeamento automático de superfícies
  • Determinação da energia livre de superfície
  • Análise com diferentes líquidos de teste
  • Elevada velocidade de aquisição de imagem
  • Redução da intervenção manual e do tempo de análise

Setor

  • Microeletrónica e semicondutores
  • Indústria química
  • Polímeros e materiais avançados
  • Revestimentos e tratamentos superficiais
  • Controlo de qualidade
  • Investigação e desenvolvimento

Características

  • Em primeiro lugar, o OCA 50 integra uma mesa de amostras com posicionamento eletrónico nos três eixos, permitindo automatizar medições em diferentes zonas da superfície.
  • Além disso, dispõe de uma lente ótica com ampliação de 6,5x e de uma câmara de alto desempenho com interface USB 3.
  • Por outro lado, é compatível com sistemas eletrónicos de dosagem múltipla DDE/x e até quatro módulos eletrónicos de seringa.
  • Desta forma, permite realizar análises com diferentes líquidos de teste e determinar a energia livre de superfície.
  • Adicionalmente, pode ser configurado para analisar wafers de silício até 12 polegadas, com mesas rotativas eletrónicas e fixação por vácuo.
  • Por fim, o software permite automatizar sequências de medição, controlar o posicionamento das gotas e mapear superfícies.

Aplicações

O OCA 50 é utilizado na medição automática de ângulos de contacto, avaliação da molhabilidade e determinação da energia livre de superfície. Além disso, permite comparar diferentes zonas de uma amostra e avaliar a uniformidade de revestimentos e tratamentos superficiais. A capacidade de mapear superfícies torna-o particularmente adequado para a análise de wafers de silício e outras amostras de grandes dimensões. Assim, fornece dados importantes para o controlo de qualidade, a investigação e o desenvolvimento de materiais.

Representação em Portugal

A Norleq representa a DataPhysics Instruments em Portugal. A equipa pode ajudá-lo a encontrar a solução mais adequada ao seu laboratório e esclarecer qualquer questão sobre o equipamento. Resumindo, a equipa assegura proximidade, suporte técnico e conhecimento especializado no mercado nacional.

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